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2018.05.10お知らせ

GETec社製「AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡」の取扱い開始のお知らせ

この度、日本カンタム・デザインではGETec社製「AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡」の取扱いを開始いたしました。


製品説明

GETec社製 AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡は、SEMとSPM(AFM,MFM,KPFM等)をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能です。

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