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超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool 物理特性測定システム PPMS 完全無冷媒型PPMS DynaCool 小型無冷媒型PPMS VersaLab 磁気特性測定装置 MPMS3 MPMS用 3He冷却システム 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット 無冷媒型 極低温 AFM / STM 液体ヘリウム再凝縮装置（マルチシステム対応） 液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 ATLシリーズ） 液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 JHRSシリーズ）
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 量子光学スマートツール qutools
Naniteカスタムソリューション LFMキャリブレーター ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型　LensAFM 散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM アクティブ防振台 IsoStage300 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM(R) カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
STED顕微鏡 STEDYCON C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置 エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム CellenONE X1i 磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
無冷媒型 FT-NMR
高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） 赤外線加熱単結晶育成システム
サーマル走査プローブ描画装置 NanoFrazor Explore サーマル走査プローブ描画装置 NanoFrazor Scholar 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
インライン式プロセス分析計
バイオマスボイラ ECO-BOILER
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シングルセル分注システム CellenONE X1i
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置
ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー
LFMキャリブレーター
エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER
STED顕微鏡 STEDYCON
無冷媒型 FT-NMR
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM
MPMS用 3He冷却システム
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非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ
ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM(R)
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
Naniteカスタムソリューション 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型　LensAFM
散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM
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高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool 物理特性測定システム PPMS 完全無冷媒型PPMS DynaCool 小型無冷媒型PPMS VersaLab
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無冷媒型 極低温 AFM / STM
サーマル走査プローブ描画装置 NanoFrazor Explore サーマル走査プローブ描画装置 NanoFrazor Scholar
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