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ナノリサーチAFM-FlexAFM カスタムAFMシステム ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応） MountainsSPIP 8 X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES） 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 大型ステージAFM Alphacen300 カスタムAFM-NaniteAFM 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® LFMキャリブレーター 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型AFM – LensAFM 物理特性測定システム PPMS® 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 磁気特性測定システム MPMS®3 MPMS用 3He冷却システム 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット オートコリレータ/クロスコリレータ 無冷媒型 FT-NMR 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 量子光学スマートツール qutools 赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) アクティブ防振台 IsoStage 液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 ATLシリーズ） 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
ナノリサーチAFM-FlexAFM ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM MountainsSPIP 8 超解像STED顕微鏡　INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット　STEDYCON C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置 エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム cellenONE 磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
ナノリサーチAFM-FlexAFM ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM MountainsSPIP 8 カスタムAFM-NaniteAFM ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型AFM – LensAFM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） アクティブ防振台 IsoStage 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
インライン式超音波濃度計 外観検査照明装置　inVIEW カスタムAFM-NaniteAFM インライン式プロセス分析計 バイオマスボイラ ECO-BOILER
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強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)
MountainsSPIP 8
インライン式超音波濃度計
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無冷媒型 FT-NMR
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
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シングルセル分注システム cellenONE
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM
MPMS用 3He冷却システム
非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
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エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM
インライン式プロセス分析計
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NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応） 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 物理特性測定システム PPMS®
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