散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM

散乱型近接場顕微鏡 neaSNOMは、専用設計されたAFMユニットとニーズに合わせて波長選択可能なレーザ光源ユニットおよび検出ユニットから構成され、反射および吸収に関して10nmに迫る高空間分解能で近接場測定を実現します。独自の特許技術によりプローブやサンプルからの反射や散乱光の影響を抑制し効率良く近接場光を検出し、プローブに依存することなく、100%に近い再現性で近接場イメージングおよび分光測定を可能にします。

散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM 特徴

  • 10nmに迫る高空間分解能での近接場イメージング
  • 再現性ほぼ100%の近接場測定を実現
  • 表面凹凸形状と近接場による化学組成マッピングの同時測定
  • 市販の標準的なAFMプローブの使用が可能
  • サンプルの薄片化が不要(AFM測定に適合した表面状態を準備するだけで測定可能)
  • スペクトル取得・分光測定も可能(オプション)

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