×
Naniteカスタムソリューション 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3 LFMキャリブレーター 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型　LensAFM 物理特性測定システム PPMS 完全無冷媒型PPMS DynaCool 小型無冷媒型PPMS VersaLab 磁気特性測定装置 MPMS3 MPMS用 3He冷却システム 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット オートコリレータ/クロスコリレータ 無冷媒型 極低温 AFM / STM 無冷媒型 FT-NMR 散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM 量子光学スマートツール qutools 液体ヘリウム再凝縮装置（マルチシステム対応） 赤外線加熱単結晶育成システム アクティブ防振台 IsoStage300 液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 ATLシリーズ） 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM 液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 JHRSシリーズ） ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM(R) カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
STED顕微鏡 STEDYCON C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置 エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム cellenONE 磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
Naniteカスタムソリューション ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型　LensAFM 散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） アクティブ防振台 IsoStage300 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM(R) カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
Naniteカスタムソリューション インライン式プロセス分析計 バイオマスボイラ ECO-BOILER
×
STED顕微鏡 STEDYCON
無冷媒型 FT-NMR
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
シングルセル分注システム cellenONE
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM
MPMS用 3He冷却システム
液体ヘリウムリカバリー装置（NMR用 JHRSシリーズ）
非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム AFS-音波分子間力学測定装置
ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM(R)
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
Naniteカスタムソリューション 多機能コンパクトAFM – CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 対物レンズ型　LensAFM
エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER
散乱型近接場顕微鏡 neaSNOM
インライン式プロセス分析計
バイオマスボイラ ECO-BOILER
高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool 物理特性測定システム PPMS 完全無冷媒型PPMS DynaCool 小型無冷媒型PPMS VersaLab
量子光学スマートツール qutools
無冷媒型 極低温 AFM / STM
ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー
LFMキャリブレーター
×

ニュース

2019.10.30お知らせ

INCHEM TOKYO2019に出展します　ブースNo.4B-09

インライン式プロセス検査機器等の出展を致します

11/20-22に幕張メッセ（千葉市美浜区）で開催されるINCHEM TOKYO2019に出展いたします。
OPTEK社製　インライン式　色度、濁度、UV計をはじめ、新製品SensoTech社製超音波式濃度計、シンクロア社製　位相偏光検査装置の実機展示をいたします。

一覧へもどる

関連情報

2019.12.30お知らせ
年末年始休業のお知らせ
2019.11.01お知らせ
独Abberior社STED顕微鏡の取り扱いを開始します。
2019.11.01お知らせ
シンクロア株式会社製　位相偏光検査装置の産業分野への販売権を取得しました。