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PPMS Ultrasonic elastic constant measurement option (English page) X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES） 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 量子光学スマートツール qutools オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター 無冷媒型 FT-NMR 磁気特性測定システム MPMS®3 3DLSスペクトロメーター 物理特性測定システム PPMS® ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 無冷媒型PPMS® DynaCool™
ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー (QDM) ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー (SCL) アクティブ防振台 IsoStage ナノリサーチ原子間力顕微鏡 FlexAFM カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム 大型ステージ原子間力顕微鏡(AFM) Alphacen300 ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM MountainsSPIP 8 カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM LFMキャリブレーター 対物レンズ型原子間力顕微鏡 LensAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM
MINFLUX abberior STAR membrane Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム アクティブ防振台 IsoStage エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER シングルセル分注システム cellenONE
小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応） 物理特性測定システム PPMS® 磁気特性測定システム MPMS®3 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） *English site 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62 赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
外観検査照明装置　inVIEW インライン式超音波濃度計 インライン式プロセス分析計 バイオマスボイラ ECO-BOILER
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM 物理特性測定システム PPMS® 磁気特性測定システム MPMS®3 ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 非接触式レオメーター
abberior STAR membrane Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
Intereherence VAHEAT 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
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強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)
MountainsSPIP 8
インライン式超音波濃度計
ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー (QDM) 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
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MINFLUX 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON
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カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
シングルセル分注システム cellenONE
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
非接触式レオメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM アクティブ防振台 IsoStage ナノリサーチ原子間力顕微鏡 FlexAFM
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 / R200 IMAGER エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER
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ニュース

2019.10.30お知らせ

INCHEM TOKYO2019に出展します　ブースNo.4B-09

インライン式プロセス検査機器等の出展を致します

11/20-22に幕張メッセ（千葉市美浜区）で開催されるINCHEM TOKYO2019に出展いたします。
OPTEK社製　インライン式　色度、濁度、UV計をはじめ、新製品SensoTech社製超音波式濃度計、シンクロア社製　位相偏光検査装置の実機展示をいたします。

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