カタログダウンロード
物性測定
-
磁気特性測定システム MPMS®3_パンフレット（英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_オプション_パンフレット （英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_MPMS3総合カタログ
-
無冷媒型PPMS® DynaCool™_PPMSシリーズ総合カタログ （日本語版）
-
物理特性測定システム PPMS®_総合カタログ （日本語版）
-
小型無冷媒型PPMS® VersaLab™_総合カタログ （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_総合カタログ （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション集 （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション ウィルスのサイズ計測（pdf）
-
非接触式レオメーター_カタログ （日本語版）
-
3DLSスペクトロメーター_フライヤー （日本語版）
-
無冷媒型 FT-NMR_フライヤー （日本語）
-
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)_フライヤー （日本語）
-
超高感度カー効果測定装置 NanoMOKE3®_NanoMOKE3 日本語カタログ
-
超高感度カー効果測定装置 NanoMOKE3®_NanoMOKE3 （パンフレット）
-
超高感度カー効果測定装置 NanoMOKE3®_NanoMOKE3 （英語カタログ）
-
超高感度カー効果測定装置 NanoMOKE3®_NanoMOKE3をMonatana C2に組み込んだ時の技術資料
-
強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)_英文カタログ
-
量子光学スマートツール qutools_フライヤー （英語版）
-
量子光学スマートツール qutools_quED カタログ
表面解析
-
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM_フライヤー （日本語）
-
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM_フライヤー （日本語）
-
コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （英語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （日本語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
ハイパフォーマンスAFM DriveAFM_DriveAFM カタログ(英語版)
-
アクティブ防振台 IsoStage_フライヤー （英語版）
-
アクティブ防振台 IsoStage_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
大型ステージAFM Alphacen300_Alphacen300(英語版)
-
カスタムAFMシステム_カスタムAFMシステム(英語)
-
対物レンズ型AFM – LensAFM_フライヤー （英語版）
-
対物レンズ型AFM – LensAFM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
カスタムAFM-NaniteAFM_NaniteAFM(英語)
-
ナノリサーチAFM-FlexAFM_Flex-Axiom カタログ(英語版)
-
ナノリサーチAFM-FlexAFM_Flex-Bio カタログ(英語版)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_カタログ （日本語版）
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション 赤外線を使用した単一エンベロープウイルス粒子のナノ分光イメージング(pdf)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 半導体のナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 生体試料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 ポリマー材料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_
-
MountainsSPIP 8_MountainsSPIP 8 フライヤー
-
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM_カタログ （英語版）
-
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM_アプリケーション （英語版）
-
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM_アプリケーション （英語版）
-
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM_アプリケーション （英語版）
-
LFMキャリブレーター_LFMキャリブレーター
バイオ＆ライフサイエンス
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （英語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （日本語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
アクティブ防振台 IsoStage_フライヤー （英語版）
-
アクティブ防振台 IsoStage_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
ハイパフォーマンスAFM DriveAFM_DriveAFM カタログ(英語版)
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_総合カタログ （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション集 （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション ウィルスのサイズ計測（pdf）
-
シングルセル分注システム cellenONE_カタログ （日本語版）
-
シングルセル分注システム cellenONE_アプリケーション フライヤー（英語版）
-
シングルセル分注システム cellenONE_アプリケーション Single Beads フライヤー（英語版）
-
シングルセル分注システム cellenONE_cellenONE_シングルセルプロテオミクス解析(LC-MS・MS)_アプリケーションノート(英語版)
-
超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY_FACILITY - Abberior Instruments
-
超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY_Application- STED顕微鏡を使用したウイルスイメージング(pdf)
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_STEDYCON カタログ
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_STEDYCON
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_Application- STED顕微鏡を使用したウイルスイメージング(pdf)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_カタログ （日本語版）
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション 赤外線を使用した単一エンベロープウイルス粒子のナノ分光イメージング(pdf)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 半導体のナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 生体試料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 ポリマー材料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_
-
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER_Exoview R100 カタログ
-
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER_Application-細胞外小胞のマルチパラメトリック分析(pdf)
-
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER_
-
AFS-音波分子間力学測定装置_AFS-G2 パンフレット
-
AFS-音波分子間力学測定装置_AFS z-Movi パンフレット
-
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム_C-Trap G2 パンフレット
-
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム_アプリケーション 動的な単一分子へのアプローチによる本質的なウィルスプロセスの研究（pdf）
-
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム_m‐Trap パンフレット
-
磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置_カタログ （英語版）
-
共焦点レーザー顕微鏡アダプター EPYCON_EPYCON リーフレット
-
共焦点レーザー顕微鏡アダプター EPYCON_Application- STED顕微鏡を使用したウイルスイメージング(pdf)
光学クライオスタット/低温物性
-
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット OptiCool®_パンフレット （英語版）
-
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット OptiCool®_サンプルポッド資料
-
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット OptiCool®_漏れ磁場に関する資料
-
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット OptiCool®_ワイヤリングプション
-
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット OptiCool®_位置決めおよび顕微鏡観察
-
磁気特性測定システム MPMS®3_パンフレット（英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_オプション_パンフレット （英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_MPMS3総合カタログ
-
物理特性測定システム PPMS®_総合カタログ （日本語版）
-
小型無冷媒型PPMS® VersaLab™_総合カタログ （日本語版）
-
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット_カタログ （英語版）
-
NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）_カタログ （英語版）
リソグラフィー/単結晶製造
産業分野
-
インライン式プロセス分析計_総合カタログ （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_バイオテクノロジー アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_ビール醸造 アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_化学工業 アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_食品・飲料 アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_石油化学 アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_パルプ・製紙 アプリケーション （日本語版）
-
インライン式プロセス分析計_コンバータControl4000 コンバータControl8000 カタログ（日本語版）
-
バイオマスボイラ ECO-BOILER_ECO-BOILERカタログ（日本語版）_A4×4P_190416
受託測定
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_総合カタログ （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション集 （日本語版）
-
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）_アプリケーション ウィルスのサイズ計測（pdf）
-
非接触式レオメーター_カタログ （日本語版）
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_STEDYCON カタログ
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_STEDYCON
-
超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON_Application- STED顕微鏡を使用したウイルスイメージング(pdf)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_カタログ （日本語版）
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション 赤外線を使用した単一エンベロープウイルス粒子のナノ分光イメージング(pdf)
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 半導体のナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 生体試料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_アプリケーション資料 ポリマー材料ナノ赤外イメージング
-
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM_
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （英語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_フライヤー （日本語版）
-
多機能コンパクトAFM – CoreAFM_Nanosurf社 総合カタログ （日本語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_パンフレット（英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_オプション_パンフレット （英語版）
-
磁気特性測定システム MPMS®3_MPMS3総合カタログ
-
物理特性測定システム PPMS®_総合カタログ （日本語版）