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磁気特性測定システム MPMS®3 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 無冷媒型 FT-NMR カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 量子光学スマートツール qutools ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクトAFM – CoreAFM ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage 大型ステージAFM Alphacen300 カスタムAFMシステム 対物レンズ型AFM – LensAFM カスタムAFM-NaniteAFM ナノリサーチAFM-FlexAFM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM MountainsSPIP 8 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー LFMキャリブレーター
多機能コンパクトAFM – CoreAFM アクティブ防振台 IsoStage ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム cellenONE 超解像STED顕微鏡　INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット　STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER AFS-音波分子間力学測定装置 C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム 磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置 共焦点レーザー顕微鏡アダプター EPYCON
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） *English site
NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
インライン式プロセス分析計 インライン式超音波濃度計 外観検査照明装置　inVIEW バイオマスボイラ ECO-BOILER
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 非接触式レオメーター 超解像STED顕微鏡ユニット　STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 多機能コンパクトAFM – CoreAFM 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS®
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強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)
MountainsSPIP 8
インライン式超音波濃度計
X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
超解像STED顕微鏡　INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット　STEDYCON 超解像STED顕微鏡ユニット　STEDYCON 共焦点レーザー顕微鏡アダプター EPYCON
無冷媒型 FT-NMR
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
シングルセル分注システム cellenONE
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原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM
非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター
AFS-音波分子間力学測定装置 C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
磁性ナノ粒子誘導加熱解析装置
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクトタイプ走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクトAFM – CoreAFM ハイパフォーマンスAFM　DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage
エクソソーム同定・定量装置　　　EXOVIEW　R100 IMAGER
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM
インライン式プロセス分析計
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散乱型近接場赤外顕微鏡neaSNOMによる材料系アプリケーションウェビナー開催のお知らせ(9/17)

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