金属-酸化物-半導体トランジスタのナノスケール IRイメージング
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡（AFM）」を融合した装置です。
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原子間力顕微鏡(AFM)を用いた磁気力(MFM)の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたMoS2(二硫化モリブデン)の表面電位差の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いた半導体表面の測定結果です。
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