製品(アプリ別)半導体導電性の測定 コンダクティブAFM(C-AFM)

導電性の測定 コンダクティブAFM(C-AFM)

原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
サンプル表面の導電性マッピングのほか、IVカーブの取得も可能です。

この他、多くの測定事例がございます。
詳細は下記アプリケーションノートをご参照ください。

このアプリケーションの詳細情報をご覧になりたい方は、以下のリンクよりアプリケーションノートをダウンロードください。

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