導電性の測定 コンダクティブAFM(C-AFM)
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
サンプル表面の導電性マッピングのほか、IVカーブの取得も可能です。
この他、多くの測定事例がございます。
詳細は下記アプリケーションノートをご参照ください。

アプリケーションノート
このアプリケーションの詳細情報をご覧になりたい方は、以下のリンクよりアプリケーションノートをダウンロードください。
関連アプリケーション一覧
メールフォームでの
お問い合わせはこちら
お問い合わせはこちら
電話・メールでも承っております。
こちらの製品に関するお問い合わせ、資料請求、
見積依頼は
お電話、メールでも承っております。
お気軽にご相談ください。
営業時間:9:00~17:00
(土日祝・年末年始・会社休業日を除く)