導電性の測定 コンダクティブAFM（C-AFM）
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
サンプル表面の導電性マッピングのほか、IVカーブの取得も可能です。
この他、多くの測定事例がございます。
詳細は下記アプリケーションノートをご参照ください。
アプリケーションノート
このアプリケーションの詳細情報をご覧になりたい方は、以下のリンクよりアプリケーションノートをダウンロードください。
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