金属-酸化物-半導体トランジスタのナノスケール IRイメージング
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡（AFM）」を融合した装置です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたMoS2(二硫化モリブデン)の表面電位差の測定結果です。
基板と比較してMoS2の表面電位が変化していることがわかります。
この他、多くの測定事例がございます。
詳細は下記アプリケーションノートをご参照ください。
Nanosurf社製 原子間力顕微鏡 AFM
このアプリケーションの詳細情報をご覧になりたい方は、以下のリンクよりアプリケーションノートをダウンロードください。
Nanosurf KPFM アプリケーションノート（英文）
Nanosurf Advanced KPFM アプリケーションノート（英文）
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