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磁気特性測定システム MPMS®3 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 無冷媒型 FT-NMR カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 量子光学スマートツール qutools ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage 大型ステージ原子間力顕微鏡(AFM) Alphacen300 カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム 対物レンズ型原子間力顕微鏡 LensAFM カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM ナノリサーチ原子間力顕微鏡 FlexAFM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM MountainsSPIP 8 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー LFMキャリブレーター
Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM アクティブ防振台 IsoStage ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム cellenONE 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム
超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） *English site
NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
インライン式プロセス分析計 インライン式超音波濃度計 外観検査照明装置　inVIEW バイオマスボイラ ECO-BOILER
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） 非接触式レオメーター 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS®
Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR
Intereherence VAHEAT
Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR
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強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)
MountainsSPIP 8
インライン式超音波濃度計
X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR
Intereherence VAHEAT
超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON
無冷媒型 FT-NMR
カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)
超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62
シングルセル分注システム cellenONE
超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 小型LED直接描画装置 マイクロライターML family
原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM
非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター
C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 / R200 IMAGER エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM
インライン式プロセス分析計
バイオマスボイラ ECO-BOILER
磁気特性測定システム MPMS®3 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool®
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ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー
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日本カンタム・デザイン株式会社 > 表面解析 > 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM

原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM

SEMとSPM（AFM,C-AFM,MFM等）をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能です。

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AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡の特徴

1. SEMとAFMのin-situ測定が可能
試料の装置間の移動が不要のため、同一環境下での測定が可能です。

2. 多様な測定モード
AFM、C-AFM、MFMなどに対応しております。

3. セルフセンシング・カンチレバー
ピエゾ素子を内蔵したカンチレバーを使用しております。
カンチレバーの交換後の調整は不要です。

4. お手持ちのSEM / FIBに取り付け可能です。
※卓上型SEMなど、一部の機種には、取付できない場合がございます。対応機種については、お問い合わせください。

AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡の仕様

測定モード AFM（コンタクトモード、ノンコンタクトモード）、C-AFM、MFM など
スキャナー 寸法　　：110mm (L) × 77mm (W) × 41mm (H)
走査範囲：x,y:35μm × 35μm、z:5µm
ポジショニングステージ 可動範囲：x=±4mm、y=±4mm、z=25mm
粗分解能：x,y,z:50nm（ステップサイズ）

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