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磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ PPMS Ultrasonic elastic constant measurement option (English page) X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES） 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 量子光学スマートツール qutools オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター 無冷媒型 FT-NMR 3DLSスペクトロメーター ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
原子間力走査型電子顕微鏡　FusionScope ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM ナノリサーチ原子間力顕微鏡 FlexAFM 対物レンズ型原子間力顕微鏡 LensAFM カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム 大型ステージ原子間力顕微鏡(AFM) Alphacen300 コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー (QDM) MountainsSPIP アクティブ防振台 IsoStage ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM-R 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano LFMキャリブレーター
abberior STAR membrane abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR MINFLUX 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON Intereherence VAHEAT ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW IMAGER ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） シングルセル分注システム cellenONE 細胞間相互作用解析装置 z-Movi C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE アクティブ防振台 IsoStage
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット 超低振動 7ﾃｽﾗ 無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
マスクレス露光装置 マイクロライターML family 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） 赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) 電子線レジスト・フォトレジスト・関連材料 Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） *English site
NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）
インライン式プロセス分析計 インライン式超音波濃度計 バイオマスボイラ ECO-BOILER
物理特性測定システム PPMS® 磁気特性測定システム MPMS®3
abberior STAR membrane abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR Intereherence VAHEAT ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM-R 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
Intereherence VAHEAT ワンショット3D測定マイクロスコープ DHM-R 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
abberior STAR membrane abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR Intereherence VAHEAT
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強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)
MountainsSPIP
インライン式超音波濃度計
ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー (QDM) 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano
X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）
abberior STAR membrane abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR
Intereherence VAHEAT
MINFLUX 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON
無冷媒型 FT-NMR
電子線レジスト・フォトレジスト・関連材料
シングルセル分注システム cellenONE
マスクレス露光装置 マイクロライターML family 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3®
オートコリレータ/クロスコリレータ 非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーター
細胞間相互作用解析装置 z-Movi C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム
ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト） ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）
超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット
ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM
エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW IMAGER
散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSCOPE
インライン式プロセス分析計
磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 原子間力走査型電子顕微鏡　FusionScope
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量子光学スマートツール qutools
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日本カンタム・デザイン株式会社 > 表面解析 > 走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano

走査型プローブ顕微鏡 AFSEM nano

SEMとSPM（AFM,C-AFM,MFM等）をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能です。

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AFSEM 原子間力走査型電子顕微鏡の特徴

1. SEMとAFMのin-situ測定が可能
試料の装置間の移動が不要のため、同一環境下での測定が可能です。

2. 多様な測定モード
AFM、C-AFM、MFMなどに対応しております。

3. セルフセンシング・カンチレバー
ピエゾ素子を内蔵したカンチレバーを使用しております。
カンチレバーの交換後の調整は不要です。

4. お手持ちのSEM / FIBに取り付け可能です。
※卓上型SEMなど、一部の機種には、取付できない場合がございます。対応機種については、お問い合わせください。

AFSEM nano 原子間力走査型電子顕微鏡の仕様

 

測定モード AFM（コンタクトモード、ノンコンタクトモード）、C-AFM、MFM など
スキャナー 寸法　　：53mm (L) × 51mm (W) × 23mm (H)
走査範囲：x,y:25μm × 25μm、z:15µm
重量 70 g
対応真空度 10-7 mbar
ポジショニングステージ 可動範囲：x=12mm、y=12mm、z=12mm
粗分解能：x,y,z:100nm（ステップサイズ）

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