特徴

  easyXAFS/XES Spectrometers

• 研究室でXAFS測定が可能
  放射光設備を使用せずに実験室内でXAFS測定を実現　     
  　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
• XAFSとXESを1台の装置で実現
  新たに開発された技術により実験室で測定できるXFAS/XESを発売　
     　　     　                                     　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
• 測定時間は数分～数十分で可能
  実験室用のサイズでありながら数分から数十分でXAFS測定可能です。　    　　　
  　                                                 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
• 簡便な操作性
  試料の固定後は必要なパラメータを入力するだけで自動測定が可能 　

分光法を容易にします。

シンクロトロン品質データを自分のラボで

easyXAFS社の高性能分光器は、放射光品質の分解能を持つ測定を数分で行うことができます。高フラックスを必要とする非常に困難な測定は、放射光ビームラインの優れた能力が最適ですが、ラボ用XAFSの能力は、エネルギー分解能に妥協することなく、これらの強力な技術に日常的にアクセスできるようにします。

3d遷移金属用XAFS

easyXAFSの硬X線分光器の広いエネルギー範囲により、TiからZnまでのすべての3d遷移金属を測定することができます。
これらの元素は、電池から触媒、環境修復など、現代の研究の主要な分野で重要な役割を担っています。

Hard X-ray

easyXAFS/XESは、汎用性の高い硬X線分光器です。メンテナンスが容易な業界標準のX線管球を使用し、
4.5～12 keVの放射光品質のスペクトルをご自身の研究室で得ることができます。

 

easyXES150

100ワットの従来のX線管光源を使用して、シンクロトロンに匹敵する測定時間で完全に研究品質のX線吸収微細構造（XAFS）とX線発光分光法（XES）を提供する分光器です。光学システムはモジュール式で、完全に事前調整されています。エネルギー範囲を変更するのに数分しかかかりません。簡単な操作、迅速なデータ収集が可能です。

 

easyXAFS300

最新のX線光学系および検出器に結合された1.2kWの従来のX線管を使用する高出力の分光器です。このX線吸収微細構造（XAFS）の実験室用のシステムは、電気エネルギー貯蔵または触媒作用の研究開発に適した非常に高速な透過モード測定を提供すると同時に、一般的なサンプルの特性評価または製品テストに非常に高いスループットを提供します。システムをeasyXAFS300 +にアップグレードして、X線発光分光法（XES）機能を追加することができます。

 

easyXAFS300+

X線吸収微細構造（XAFS）とXES（高解像度XFR）の両方を１台の装置で実現できます。この機器は、easyXAFS300システムと同じ高出力の分光器を使用し、低出力のX線管とX線発光分光法（XES）測定に適した電源を追加しています。

仕様

シンクロトロンとの比較

測定例

アプリケーション

幅広いアプリケーション

easyXAFSスペクトロメーターの機能は、その日の技術的な課題を解決するのに適しています。
元素感度と化学感度を兼ね備えるeasyXAFSは、バッテリー、触媒、エレクトロニクスなどで一般的に使用されている材料についての分析を行うことができる装置です。

論文は、メーカホームページをご参照ください。

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