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磁気特性測定システム MPMS®3 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーターオートコリレータ/クロスコリレータ無冷媒型 FT-NMR カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R) 超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR) 量子光学スマートツール qutools ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）

コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage 大型ステージ原子間力顕微鏡(AFM) Alphacen300 カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム対物レンズ型原子間力顕微鏡 LensAFM カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM ナノリサーチ原子間力顕微鏡 FlexAFM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM MountainsSPIP 8 原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー LFMキャリブレーター

Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM アクティブ防振台 IsoStage ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）シングルセル分注システム cellenONE 超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム

超低振動 7ﾃｽﾗ無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool® 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）

赤外線加熱単結晶育成システム（IRF) 超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62 小型LED直接描画装置マイクロライターML family 高出力レーザ加熱型単結晶育成装置（LFZ） Laser-Based Floating Zone Furnace（LFZ） *English site

NEW 液体ヘリウム再凝縮システム（NMR/マルチシステム対応）

インライン式プロセス分析計インライン式超音波濃度計外観検査照明装置　inVIEW バイオマスボイラ ECO-BOILER

ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）非接触式レオメーター超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM 磁気特性測定システム MPMS®3 物理特性測定システム PPMS®

Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR

Intereherence VAHEAT

Intereherence VAHEAT abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR

強磁性共鳴スペクトロメータ（FMR)

MountainsSPIP 8

インライン式超音波濃度計

X線吸収微細構造（XAFS) / X線発光分光法（XES）

abberior FLUX abberior LIVE abberior STAR membrane abberior STAR

Intereherence VAHEAT

超解像STED顕微鏡 INFINITY/FACILITY 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON

無冷媒型 FT-NMR

カーボンナノチューブ分光計 NanoSpectralyzer (R)

超高分解能電子ビーム用レジスト CSAR62

シングルセル分注システム cellenONE

超高感度カー効果測定装置　NanoMOKE3® 小型LED直接描画装置マイクロライターML family

原子間力走査型電子顕微鏡 AFSEM

非接触式レオメーター 3DLSスペクトロメーターオートコリレータ/クロスコリレータ非接触式レオメーター

C-Trap 光ピンセット蛍光顕微鏡システム

ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）ナノ粒子解析システム NanoSight（ナノサイト）

超低振動無冷媒オプティカルクライオスタット

コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM コンパクト走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM 多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM アクティブ防振台 IsoStage

エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 / R200 IMAGER エクソソーム同定・定量装置 EXOVIEW R100 IMAGER

散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM 散乱型近接場光赤外顕微鏡 neaSNOM

インライン式プロセス分析計

バイオマスボイラ ECO-BOILER

磁気特性測定システム MPMS®3 無冷媒型PPMS® DynaCool™ 物理特性測定システム PPMS® 小型無冷媒型PPMS® VersaLab™ 超低振動 7ﾃｽﾗ無冷媒型オプティカルクライオスタット　OptiCool®

量子光学スマートツール qutools

ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバーピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー

外観検査照明装置　inVIEW

LFMキャリブレーター

日本カンタム・デザイン株式会社 > 表面解析 > カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM

カスタム原子間力顕微鏡 NaniteAFM

一般的なSPM装置には、サンプルの大きさやサンプルステージの可動域に制限があります。大きなサンプルを破壊せずにそのまま測定したり、傾きのあるサンプルに合わせて測定したい場合には、カスタムAFMによるソリューションをご提案します。

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ヘッドユニット

必要とされるスキャン範囲や分解能、目的に合わせてヘッドユニットを選択できます。一般的なソリューションでは、カメラを内蔵した汎用NaniteAFMヘッドユニットが適しています。より高い分解能や液中測定が必要な場合にはFlexAFMヘッドユニットを選択できます。

AFM head	XY範囲	Z範囲	Zノイズ (static)	Zノイズ (dynamic)	内蔵カメラ
Nanite 110	110 μm	22 μm	350 pm	90 pm	top +side
Nanite 70	70 μm	14 μm	350 pm	90 pm	top + side
Nanite 25	25 μm	5 μm	80 pm	30 pm	top + side
Flex 100	100 μm	10 μm	100 pm	35 pm	–
Flex 10	10 μm	3 μm	100 pm	35 pm	–

品質管理用の計測システムへのカスタムソリューション。

Nanite小型AFMヘッドモジュールにより、汎用AFMでは対応が難しい形状・大きさのサンプルへの対応をご提案可能です。

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NaniteAFM(英語)

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