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Naniteカスタムソリューション

一般的なSPM装置には、サンプルの大きさやサンプルステージの可動域に制限があります。大きなサンプルを破壊せずにそのまま測定したり、傾きのあるサンプルに合わせて測定したい場合には、カスタムAFMによるソリューションをご提案します。

メーカー

Nanosurf

カテゴリ

マテリアルサイエンス

ヘッドユニット

必要とされるスキャン範囲や分解能、目的に合わせてヘッドユニットを選択できます。一般的なソリューションでは、カメラを内蔵した汎用NaniteAFMヘッドユニットが適しています。より高い分解能や液中測定が必要な場合にはFlexAFMヘッドユニットを選択できます。

 

AFM head XY範囲 Z範囲  Zノイズ (static) Zノイズ (dynamic) 内蔵カメラ
Nanite 110 110 μm 22 μm 350 pm 90 pm top +side
Nanite 70 70 μm 14 μm 350 pm 90 pm top + side
Nanite 25 25 μm 5 μm 80 pm 30 pm top + side
Flex 100 100 μm 10 μm 100 pm 160 pm  –
Flex 10 10 μm 3 μm 100 pm 160 pm  –

 

品質管理用の計測システムへのカスタムソリューション。

Nanite小型AFMヘッドモジュールにより、汎用AFMでは対応が難しい形状・大きさのサンプルへの対応をご提案可能です。

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